거즈의 X선 불투명도 시험방법

스크린이 없는 X선 필름을 두께 2mm 이상 또는 이에 상당하는 두께의 납고무 시트 위에 놓고 시료나 X선을 필름 중앙에 올려놓는다.

선 검출 가능한 구성요소의 대표적인 샘플의 경우, 시험편으로 덮이지 않은 필름의 나머지 부분은 모두 2mm 납 또는 동일한 두께의 납 고무로 덮었습니다.

X-ray 산란이 필름에 영향을 미치지 않도록 덮으십시오. 마지막으로, 10mm 두께의 99% 순수 알루미늄 판을 샘플 위에 놓습니다.

X선 장치로 시료와 알루미늄 판을 동시에 피크 전압 70kV로 조사하여 10mm 두께의 알루미늄 판을 통과한 대수 광학 밀도는 대략

1.0에서는 샘플 이미징이 배경보다 상당히 얕아야 합니다.